ST4080-OSP　
　　非接觸、非損壞、的OSP鍍層厚度測(cè)量　
　　操作快捷、簡(jiǎn)單，無(wú)需樣品制備工序　
　　直接在線檢測(cè)實(shí)際產(chǎn)品　
　　自動(dòng)繪制OSP鍍層厚度三維分布指示圖　
　　自動(dòng)測(cè)試平均厚度　
　　
　　ST4080-OSP介紹　
　　ST4080-OSP儀器通過進(jìn)行PCB／PWB上OSP鍍層厚度的完整性、性及膜層形態(tài)的定量分析，進(jìn)而檢測(cè)OSP鍍層的應(yīng)用性?！?
　　實(shí)時(shí)檢測(cè)PCB／PWB上OSP鍍層厚度?！?
　　在OSP鍍層表面864×648μm的測(cè)試區(qū)域內(nèi)同時(shí)測(cè)量單個(gè)面積為1.35μm×1.35μm區(qū)域的OSP鍍層厚度?！?
　　在OSP鍍層表面86.4×64.8μm的測(cè)試區(qū)域內(nèi)同時(shí)測(cè)量單個(gè)面積為0.135μm×0.135μm區(qū)域的OSP鍍層厚度。　
　　檢測(cè)分析的鍍層厚度范圍在0.035－3μm?！?
　　繪制OSP鍍層厚度三維分布圖?！?
　　可在PCB板上選定特定區(qū)域針對(duì)OSP鍍層厚度進(jìn)行的質(zhì)量監(jiān)控、失效分析以鍍層質(zhì)量。　
　　光譜范圍：420nm－640nm　
　　自動(dòng)測(cè)試平均厚度　
　　
　　ST4080-OSP檢測(cè)原理　
　　ST4080-OSP儀器通過分析可見光譜中不同波長(zhǎng)的光譜分別在銅箔表面和OSP鍍層表面上反射后形成的新的關(guān)于波長(zhǎng)的數(shù)據(jù)信息來(lái)測(cè)量OSP鍍層的厚度。從OSP鍍層表面反射的光線與從基層銅箔表面反射的光線相互干涉從而形成新的干涉圖譜。該圖譜會(huì)形成與光強(qiáng)相關(guān)的振幅曲線，ST4080-OSP儀器通過分析該曲線的振幅和頻率以確定OSP鍍層厚度和完整性。　　
　　ST4080-OSP的特點(diǎn)　
　　在OSP鍍層表面864×648μm的測(cè)試區(qū)域，同時(shí)測(cè)量單個(gè)面積為1.35μm×1.35μm區(qū)域的OSP鍍層厚度?！?
　　在OSP鍍層表面86.4×64.8μm的測(cè)試區(qū)域，同時(shí)測(cè)量單個(gè)面積為0.135μm×0.135μm區(qū)域的OSP鍍層厚度?！?
　　OSP鍍層的實(shí)際附著情況可以通過三維厚度分布圖進(jìn)行清晰顯示?！?
　　實(shí)時(shí)檢測(cè)實(shí)際產(chǎn)品上OSP鍍層厚度，無(wú)需樣品制備工序。　
　　ST4080-OSP儀器測(cè)量技術(shù)對(duì)接受測(cè)試的PCB／PWB產(chǎn)品沒有任何不利、破壞影響。　
　　可在PCB／PWB產(chǎn)品生命周期的不同階段進(jìn)行檢測(cè)，以監(jiān)控OSP鍍層在生產(chǎn)和儲(chǔ)存過程中可能產(chǎn)生的不良變化?！?
　　ST4080-OSP儀器可實(shí)時(shí)檢測(cè)PCB／PWB上OSP鍍層厚度和質(zhì)量。