Surftest（表面粗糙度測量儀）SJ-500P/SV-2100M4（PC 型）
178系列—帶有 PC（個人電腦）
高、表面粗糙度測試儀充分利用分析軟件優(yōu)勢。SJ-500P是單機，而SV-2100M4則是一種臺式設(shè)備，含手動精密立柱。
特點
控制部件中的內(nèi)置操縱桿使得定位快捷簡便。測量小孔內(nèi)側(cè)時可使用手動旋鈕對細小測針的位置進行微調(diào)。
表面粗糙度測量條件的設(shè)置簡單易行。利用簡單的輸入功能可按ISO/JIS粗糙度標準計算繪圖指令號。復雜的測量條件設(shè)置很容易輸入，只要由表面粗糙度菜單中選擇繪圖指令號即可。
技術(shù)參數(shù)：SJ-500P
X1軸（驅(qū)動部）
測量范圍：50mm
分辨率：0.05μm
長度基準：線性編碼器
驅(qū)動速度：0-20mm/s
測量速度：0.02-5mm/s
移動方向：向后
直線度：0.2μm/50mm
定位：&plun;1.5o（傾角，有DAT 功能）
30mm（向上／向下）
檢出器
范圍／分辨率：800μm/0.01μm，80μm/0.001μm，8μm/0.0001μm
檢測方法：無軌／有軌測量
測力：參見性能參數(shù)表
測針針尖：參見性能參數(shù)表
導頭曲率半徑：40mm
類型：差動電感式
驅(qū)動裝置的控制：PC操作
技術(shù)參數(shù)：SV-2100 M4（PC型）
X1軸（驅(qū)動部）
測量范圍：100mm
分辨率：0.05μm
長度基準：線性編碼器
驅(qū)動速度：0-40mm/s
測量速度：0.02-5mm/s
移動方向：向后
直線度：0.15μm/100mm
Z2軸（立柱）
類型：手動操作
垂直移動：350mm
檢出器
范圍／分辨率：
800μm/0.01μm，80μm/0.001μm，8μm/0.0001μm
檢測方法：
無軌／有軌測量
測力：
參見性能參數(shù)表
測針針尖：
參見性能參數(shù)表
類型：
差動電感式
驅(qū)動裝置的控制：PC 操作
評價能力：SURFPAK-SV
評價輪廓：
P（原始輪廓），R（表面粗糙度輪廓），WC，WCA，WE，WEA，DIN4776輪廓，包絡(luò)殘余線，粗糙度motif，波形motif
評價參數(shù)：
Ra，Rq，Rz，Ry，Rz（JIS），Ry（DIN），Rc，Rp，Rpmax，Rpi，Rv，Rvmax，Rvi，Rt，Rti，R3z，R3zi，R3y，S，Pc（Ppi），，HSC，mr，δc，plateau ratio，mrd，Rk，Rpk，Rvk，Mr1，Mr2，Δa，Δq，la，lq，Sk，Ku，Lo，Lr，A1，A2
粗糙度motif 參數(shù)：Rx，R，AR，SR，SAR，NR，NCRX，
波形motif 參數(shù)：Wte，Wx，W，AW SW，SAW，NW
分析圖表：
ADC，BAC1，BAC2，功率譜圖，自相關(guān)圖，Walsh 功率譜圖，Walsh 自相關(guān)圖，傾斜分布圖，局部峰值分布圖，參數(shù)分布圖
濾波類型 2CR-75%，2CR-50%，2CR-75%（相位校正），2CR-50%（相位校正），高斯-50%
截止波長*：
lc：0.025mm，0.08mm，0.25mm，0.8mm，2.5mm，8mm，25mm
fl：0.08mm，0.25mm，0.8mm，2.5mm，8mm，25mm
fh：0.08mm，0.25mm，0.8mm，2.5mm，8mm
取樣長度*：
0.025mm，0.08mm，0.25mm，0.8mm，2.5mm，8mm，
25mm
數(shù)據(jù)補償功能：
傾斜補償，R平面（曲面）補償，橢圓補償，拋物線補償，雙曲線補償，二次曲線自動補償，多項式補償，多項式自動補償
*可在0.025至移動長度間指定任意長度
178系列—帶有 PC（個人電腦）
高、表面粗糙度測試儀充分利用分析軟件優(yōu)勢。SJ-500P是單機，而SV-2100M4則是一種臺式設(shè)備，含手動精密立柱。
特點
控制部件中的內(nèi)置操縱桿使得定位快捷簡便。測量小孔內(nèi)側(cè)時可使用手動旋鈕對細小測針的位置進行微調(diào)。
表面粗糙度測量條件的設(shè)置簡單易行。利用簡單的輸入功能可按ISO/JIS粗糙度標準計算繪圖指令號。復雜的測量條件設(shè)置很容易輸入，只要由表面粗糙度菜單中選擇繪圖指令號即可。
技術(shù)參數(shù)：SJ-500P
X1軸（驅(qū)動部）
測量范圍：50mm
分辨率：0.05μm
長度基準：線性編碼器
驅(qū)動速度：0-20mm/s
測量速度：0.02-5mm/s
移動方向：向后
直線度：0.2μm/50mm
定位：&plun;1.5o（傾角，有DAT 功能）
30mm（向上／向下）
檢出器
范圍／分辨率：800μm/0.01μm，80μm/0.001μm，8μm/0.0001μm
檢測方法：無軌／有軌測量
測力：參見性能參數(shù)表
測針針尖：參見性能參數(shù)表
導頭曲率半徑：40mm
類型：差動電感式
驅(qū)動裝置的控制：PC操作
技術(shù)參數(shù)：SV-2100 M4（PC型）
X1軸（驅(qū)動部）
測量范圍：100mm
分辨率：0.05μm
長度基準：線性編碼器
驅(qū)動速度：0-40mm/s
測量速度：0.02-5mm/s
移動方向：向后
直線度：0.15μm/100mm
Z2軸（立柱）
類型：手動操作
垂直移動：350mm
檢出器
范圍／分辨率：
800μm/0.01μm，80μm/0.001μm，8μm/0.0001μm
檢測方法：
無軌／有軌測量
測力：
參見性能參數(shù)表
測針針尖：
參見性能參數(shù)表
類型：
差動電感式
驅(qū)動裝置的控制：PC 操作
評價能力：SURFPAK-SV
評價輪廓：
P（原始輪廓），R（表面粗糙度輪廓），WC，WCA，WE，WEA，DIN4776輪廓，包絡(luò)殘余線，粗糙度motif，波形motif
評價參數(shù)：
Ra，Rq，Rz，Ry，Rz（JIS），Ry（DIN），Rc，Rp，Rpmax，Rpi，Rv，Rvmax，Rvi，Rt，Rti，R3z，R3zi，R3y，S，Pc（Ppi），，HSC，mr，δc，plateau ratio，mrd，Rk，Rpk，Rvk，Mr1，Mr2，Δa，Δq，la，lq，Sk，Ku，Lo，Lr，A1，A2
粗糙度motif 參數(shù)：Rx，R，AR，SR，SAR，NR，NCRX，
波形motif 參數(shù)：Wte，Wx，W，AW SW，SAW，NW
分析圖表：
ADC，BAC1，BAC2，功率譜圖，自相關(guān)圖，Walsh 功率譜圖，Walsh 自相關(guān)圖，傾斜分布圖，局部峰值分布圖，參數(shù)分布圖
濾波類型 2CR-75%，2CR-50%，2CR-75%（相位校正），2CR-50%（相位校正），高斯-50%
截止波長*：
lc：0.025mm，0.08mm，0.25mm，0.8mm，2.5mm，8mm，25mm
fl：0.08mm，0.25mm，0.8mm，2.5mm，8mm，25mm
fh：0.08mm，0.25mm，0.8mm，2.5mm，8mm
取樣長度*：
0.025mm，0.08mm，0.25mm，0.8mm，2.5mm，8mm，
25mm
數(shù)據(jù)補償功能：
傾斜補償，R平面（曲面）補償，橢圓補償，拋物線補償，雙曲線補償，二次曲線自動補償，多項式補償，多項式自動補償
*可在0.025至移動長度間指定任意長度
