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CheckSum Analyst ems  12KN開放平臺(tái)I測試系統(tǒng)
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CheckSum Analyst ems 12KN開放平臺(tái)I測試系統(tǒng)

產(chǎn)品價(jià)格:
電議
產(chǎn)品型號(hào):
Analyst ems 12KN Open Platform In Circuit Test...
供應(yīng)商等級(jí):
企業(yè)未認(rèn)證
經(jīng)營模式:
工廠
企業(yè)名稱:
深圳市森力普電子有限公司
所屬地區(qū):
發(fā)布時(shí)間:
2014/1/24 12:49:40

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付顯波先生(聯(lián)系我時(shí),請說明是在維庫儀器儀表網(wǎng)看到的,謝謝)

企業(yè)檔案

深圳市森力普電子有限公司

企業(yè)未認(rèn)證營業(yè)執(zhí)照未上傳

經(jīng)營模式:工廠

主營產(chǎn)品:LED測試儀;LED分析儀;ATE功能測試;自動(dòng)化方案;checksum;ict測試儀;在線測試儀;In Line測試升級(jí)改造;PCBA功能測試系統(tǒng);自動(dòng)化測試設(shè)備;ICT測試治具;功能測試治具;治具;夾具;回流焊;過爐托盤;過爐載具;ICT測試系統(tǒng);在線燒錄;自動(dòng)化測試

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特點(diǎn):

>測試點(diǎn)數(shù)多可達(dá) 5200 點(diǎn)、待測電路板的尺寸可至 61 x 33.5 厘米 的在線測試
> 雙層探測技術(shù)可提供I測試和功能測試

> 雙層夾具沒有額外費(fèi)用
> MultiWriter*芯片編程、多達(dá) 384 塊芯片的同步編程
> Corelis, Asset, JTAG 和 Goepel 的邊界掃描運(yùn)行環(huán)境
> 可提供 TestJet 技術(shù)

> 全集成 CheckSum Windows 測試系統(tǒng)軟件環(huán)境
> 合人體工學(xué)的滑入式夾具設(shè)計(jì)、夾具上下鎖定操作
> 光電保護(hù)操作人員的

> 內(nèi)置 SPC 測量工具;便于工廠數(shù)據(jù)系統(tǒng)集成

> 集成機(jī)架/機(jī)箱的快速平穩(wěn)按壓驅(qū)動(dòng)方式


CheckSum Analyst ems 12KN 是設(shè)計(jì)用于電路板的開放式測試平臺(tái)。該系統(tǒng)可提供單板或聯(lián)片板的 I 測試、芯片編程、邊界
掃描和功能測試的平臺(tái)。


Analyst ems 12KN 設(shè)計(jì)用于測試大部分單面或雙面 SMT/ 通孔電路板??蔀楝F(xiàn)今制造的大部分模擬或數(shù)字電路板裝配進(jìn)行的不
加電測試。


雙層探測技術(shù)和可選加電功能測試適合包含某些數(shù)字電路的低頻模擬電路板。


Analyst ems 12KN 無需使用電源便可測試整塊電路板或單獨(dú)元器件。使用如DC或復(fù)合阻測量的測量技術(shù)與多點(diǎn)式監(jiān)護(hù),該系
統(tǒng)可發(fā)現(xiàn)如短路、開路及錯(cuò)誤或不正確安裝元器件等的大部分故障。在電路板處于不加電模式時(shí)發(fā)現(xiàn)大部分不良,并結(jié)合具體
的故障診斷信息,不良電路板可獲得。


滑入式治具頂部和底部不同機(jī)種的換線在很短的時(shí)間內(nèi)完成。

一旦操作員將待測電路板 (UUT) 的定位孔放在治具定位柱上并按下測試鍵,系統(tǒng)的壓床會(huì)自動(dòng)下降至 I 位置使探針與測試點(diǎn)充分接觸。為操作員,如果光電保護(hù)探測到任何物體,壓床會(huì)立刻停止運(yùn)行。

如有需要,系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)將壓床移至功能測試位置,以使只用于芯片編程、邊界掃描或功能測試的探針與待測電路板的測試點(diǎn)接觸。

測試結(jié)束后,系統(tǒng)顯示測試結(jié)果而壓床會(huì)自動(dòng)抬起,以便移走測試結(jié)束的電路板。

規(guī)格:

12KN 氣動(dòng)治具系統(tǒng)特色

• 與現(xiàn)有 CheckSum KIT1000-QC 和 KIT2KN-QC 治具兼容

• 治具 KIT28 的可測尺寸約為 61 x 33.5 厘米;多達(dá) 28 個(gè)接口 ( 每個(gè)接口涵蓋200個(gè)測試點(diǎn) )

• 治具 KIT20 的可測尺寸約為 40.6 x 33.5 厘米;多達(dá) 20 個(gè)接口 ( 每個(gè)接口涵蓋 200 個(gè)測試點(diǎn) )

• 氣缸提供 2700 鎊 (12000 牛頓 ) 壓力

• 系統(tǒng)小占地面積:114 x 102 厘米機(jī)箱內(nèi)并備有 7U 儲(chǔ)存架區(qū)供客戶放置選定儀器

• 合 CE

系統(tǒng)信息

• 3200 個(gè)測試點(diǎn)、多可達(dá) 5200 個(gè)

• MultiWriter 芯片編程選項(xiàng)

• 邊界掃描 (Asset, Corelis, JTAG, Goepel) 選項(xiàng)

• TestJet 技術(shù)

• 功能測試和數(shù)字 I/O 選項(xiàng)

• 多電源選項(xiàng)

系統(tǒng)軟件

• Windows 可視編程測試執(zhí)行程序

• 在線幫助

• 強(qiáng)大的I的功能

• 可上電的功能測試

• Visual Studio™ 和 LabWindows/CVI™ 鏈接

• 可視化測試系統(tǒng)執(zhí)行程序包括:
• 統(tǒng)計(jì)過程控制 (SPC) 工具
• 測試程序生成工具
• 測試程序驗(yàn)證工具
• 多聯(lián)片電路板面板支持

更多詳細(xì)內(nèi)容請瀏覽CheckSum網(wǎng)站:www.checksum.com

聯(lián)系方式

深圳市森力普電子有限公司

聯(lián)系人:
付顯波先生
傳真:
86 0755 27572225
類型:
工廠
地址:
廣東 深圳市寶安區(qū) 西鄉(xiāng)三圍奮達(dá)科技園E棟二樓

服務(wù)熱線

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