自60年代激光產生以后，其高方向性和高亮度的性就一直吸引著人們不斷探索它在各方面的應用，其中，工業生產中的非接觸、在線測量是重要的應用領域，它可以完成許多用接觸式測量手段無法完成的檢測任務。普通的光學測量在大地測繪、建筑工程方面有悠久的應用歷史，其中距離測量的方法就是利用基本的三角幾何學。在80年代末90年代初，人們開始激光與三角測量的原理相結合，形成了激光三角測距器。它的優點是高，不受被測物的材料、質地、型狀、反射率的限制。從白色到黑色，從金屬到陶瓷、塑料都可以測量。
激光三角法位移測量的原理是，用一束激光以某一角度聚焦在被測物體表面，然后從另一角度對物體表面上的激光光斑進行成像，物體表面激光照射點的位置高度不同，所接受散射或反射光線的角度也不同，用CCD光電探測器測出光斑像的位置，就可以計算出主光線的角度，從而計算出物體表面激光照射點的位置高度。當物體沿激光線方向發生移動時，測量結果就將發生改變，從而實現用激光測量物體的位移。過去，由于成本和體積等問題的限制，其應用未能普及。隨著近年來電子技術的飛速發展，是半導體激光器和CCD等圖象探測用電子芯片的發展，激光三角側距器在性能改進的同時，體積不斷縮小，成本不斷降低，正逐步從研究走向實際應用，從實驗室走向實際。
激光三角法位移測量的原理是，用一束激光以某一角度聚焦在被測物體表面，然后從另一角度對物體表面上的激光光斑進行成像，物體表面激光照射點的位置高度不同，所接受散射或反射光線的角度也不同，用CCD光電探測器測出光斑像的位置，就可以計算出主光線的角度，從而計算出物體表面激光照射點的位置高度。當物體沿激光線方向發生移動時，測量結果就將發生改變，從而實現用激光測量物體的位移。過去，由于成本和體積等問題的限制，其應用未能普及。隨著近年來電子技術的飛速發展，是半導體激光器和CCD等圖象探測用電子芯片的發展，激光三角側距器在性能改進的同時，體積不斷縮小，成本不斷降低，正逐步從研究走向實際應用，從實驗室走向實際。
