* 是Ｘ射線的高壓控制箱會(huì)對(duì)測(cè)量的造成的影響。Ｘ射線測(cè)厚儀的測(cè)量原理就是通過施加高壓電源放射出Ｘ射線，通過Ｘ射線的穿透物體時(shí)的衰減量來測(cè)量被測(cè)物體的厚度。但是高壓控制箱的安裝位置會(huì)對(duì)測(cè)厚儀的度造成的影響。安裝的位置不當(dāng)就會(huì)使測(cè)量的不準(zhǔn)確波動(dòng)比較明顯。另外，Ｘ射線本身的衰減也會(huì)影響測(cè)厚儀的測(cè)量。Ｘ射線源的衰減對(duì)于工廠現(xiàn)場(chǎng)的的標(biāo)定過程中，隨著使用時(shí)間的增加，燈管的曲線會(huì)發(fā)生變化，在同一電壓下，隨著使用燈管時(shí)間的遞加，厚度偏差會(huì)越來越大，因此，Ｘ射線源的衰減，是影響測(cè)量的一個(gè)主要原因。除了正常使用過程中Ｘ射線源會(huì)出現(xiàn)衰減，在出現(xiàn)某些故障是，也會(huì)發(fā)生突發(fā)性的衰減，出現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化通過不過，反饋的電壓與工廠現(xiàn)場(chǎng)標(biāo)準(zhǔn)電壓相差大，發(fā)生這種情況，Ｘ射線測(cè)厚儀的測(cè)量肯定是不準(zhǔn)確的。
* 在Ｘ射線測(cè)厚儀通過施加高壓釋放出Ｘ射線時(shí)，Ｘ射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會(huì)影響Ｘ射線對(duì)被測(cè)物體的測(cè)量。尤其是在熱軋的過程中，測(cè)量的空間大Ｘ射線途經(jīng)的環(huán)境就比較大，當(dāng)溫度高時(shí)，測(cè)量值減小，當(dāng)溫度低時(shí)，測(cè)量值則增加。
* 在測(cè)量過程中，被測(cè)物體上，可能會(huì)有附著物，也會(huì)影響測(cè)量的。比如，在軋制生產(chǎn)中，測(cè)量的鋼板上可能會(huì)附著著水、油或者氧化物，這都會(huì)對(duì)Ｘ射線測(cè)厚儀的測(cè)量值造成影響，出現(xiàn)誤差。另外，被測(cè)量的物體，可能會(huì)上下跳動(dòng)，偏離測(cè)量時(shí)的位置，這種傾斜也會(huì)影響測(cè)量的。
* 在生產(chǎn)過程中，補(bǔ)償值也會(huì)對(duì)Ｘ射線測(cè)厚儀的測(cè)量造成影響。我們利用測(cè)厚儀測(cè)量是，會(huì)事先給測(cè)厚儀輸入一個(gè)補(bǔ)償值，讓測(cè)量值與實(shí)際值相等。在這個(gè)過程中，操作者先對(duì)板材進(jìn)行測(cè)量，但是操作者使用量尺的方式不同，就會(huì)造成補(bǔ)償值的大小不等，會(huì)形成人為的誤差。只有在進(jìn)行測(cè)量時(shí)，操作者認(rèn)真操作，減少補(bǔ)償值得測(cè)算誤差，使補(bǔ)償值接近真實(shí)值，Ｘ射線測(cè)厚儀的測(cè)量。
電鍍膜厚測(cè)試儀放射源基本結(jié)構(gòu)。放射源主要由X射線管、陰絲、變壓器、高壓倍壓電路組成。X射線管是密封真空的，它的陰是鎢絲，陽是鎢制成的目標(biāo)靶。當(dāng)陰通電時(shí)，陰鎢絲由于發(fā)熱而產(chǎn)生熱電子，熱電子在高壓作用下產(chǎn)生動(dòng)能，并以很高的加速度射向陽目標(biāo)靶形成管電流。當(dāng)熱電子撞到陽靶時(shí).它的動(dòng)能就轉(zhuǎn)換成熱和X射線，穿線管以光子的形式發(fā)射出去。
電鍍膜厚測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)塊盒。標(biāo)準(zhǔn)塊盒的主要作用是對(duì)測(cè)厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)，由校準(zhǔn)的結(jié)果得到一組校準(zhǔn)曲線。標(biāo)準(zhǔn)塊盒的位置在X射線管的上面，由7個(gè)純鋁標(biāo)準(zhǔn)塊組成，每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)塊由一個(gè)電控電磁線圈驅(qū)動(dòng)放人X射線束，通過計(jì)算機(jī)控制可組成不同的厚度。該測(cè)厚儀總的校準(zhǔn)范圍為10~500fmi。
