X射線膜厚測(cè)試儀檢測(cè)器。X射線檢測(cè)器主要由光電管和前置放大器組成。光電管 的陰加有高壓（通常幾百伏）。當(dāng)X射線光子射到光電管的陰時(shí)產(chǎn)生電子，在陰電壓的作用下，把陰的每個(gè)電子（假設(shè)每放大n個(gè)電子）增加到d (d為數(shù)）個(gè)電子，即放大管電流，終到達(dá)陽(yáng)，然后通過前置放大器把管電流放大并轉(zhuǎn)換成電壓形式。

X射線膜厚測(cè)試儀簡(jiǎn)單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。
具體地說,比如用不同的裝置測(cè)定食鹽(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD)為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性。
膜厚儀也叫X射線測(cè)厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。