BC3193半導體分立器件測試系統
　　系統用途
　　BC3193半導體分立器件測試系統是半導體參數測試的設備，用于半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測，各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門進行入廠檢驗、性分析測試
　　系統特點
　　◆PC機為系統的主控機
　　◆菜單式測試程序編輯軟件操作簡便
　　◆預先連接測試自動識別NPN/PNP
　　◆0～&plun;2000V程控高壓源
　　◆&plun;1000A程控高流源
　　（外接高流臺可擴充到&plun;1000A）
　　◆測試漏流小分辨率達6.1pA
　　◆四線開爾文連接加載測量的準確
　　◆通過IEEE488接口連接校準數字表傳遞計量標準對系統進行校驗
　　◆Prober接口、Handler接口可選（16Bin）
　　◆可為用戶提供豐富的測試適配器
　　
　　測試對象
　　二管/穩壓管/恒流二管/整流橋/瞬態抑制管：  BVR、IR、VF、VZ、RZ
　　三管：BVCBO、BVCEO、BVC、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、IC、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBAT、VCAT
　　可控硅：  BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、
　　IH、IL、VGT、VON
　　場效應管：  BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS（on）、VDS（on）、VGS、VGS（th）、VP
　　IGBT：  BVC、BVCGR、BVG、IC、IG、VCAT、VGETH、VGS（off）
　　達林頓矩陣：ICEX、IIN（ON）、IIN（Off）、VIN（on）、IR、VCAT、BVR、HFE、ICEO
　　單結晶體管：Iv、VV、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2
　　光敏二、三管：ID、IL、VOC、ISC、BV、BVCE
　　光耦（輸出類型：二管、三管、可控硅、MOSFET）：  R、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBAT、VCAT、IR、IAKF、IAKR（加時間測量選件Tr、TF、Toff、Ton）
　　固態繼電器：IFoff、IFon、IR、Ioff、Ion、RON、VF、VR、Von
　　硬件基本配置
　　主控計算機一臺：Windows操作系統、PCI插槽1個以上；
　　計算機PCI接口板（CPUINT）一塊；系統接口板（SYSINT）一塊（含GPIB接口）；
　　數據采集板（VM）一塊；
　　40A/30V程控電流電壓源（VIS）二塊；
　　&plun;2000V程控電壓源（HVS）一塊；
　　電流/電壓轉換板（IVC）一塊；
　　電源控制板（PWC）一塊；
　　測試臺矩陣板（STATION）一塊；
　　自檢模板2個；
　　測試適配器4個（二管、TO-92、TO-3、TO-220）