RDL系列雷達物位計是基于雷達測距原理的物位測量產品。該儀表具有穩(wěn)定性高、測量高、應用場合廣泛等優(yōu)點。相比其它原理的儀表而言，RDL系列產品更是具有受所測物料的介電常數變化及密度變化影響小、粉塵、霧氣的特點。
雷達物位計天線發(fā)射窄的微波脈沖，這個脈沖以在空間傳播，遇到被測介質表面，其部分能量被反射回來，被同線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質表面的距離成正比，從而計算出天線到被測介質表面的距離。
RDL系列儀表可使用液晶調試/顯示模塊，支持現場調試，支持Hart通信協(xié)議、Foundation Fieldbus總線、Profibus PA總線。其中液晶調試/顯示模塊具有調試和顯示的雙重功能，無需使用任何外圍輔助設備，使用戶能夠直觀地讀取、設置所需的各項數據?！?
雷達物位計天線發(fā)射窄的微波脈沖，這個脈沖以在空間傳播，遇到被測介質表面，其部分能量被反射回來，被同線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質表面的距離成正比，從而計算出天線到被測介質表面的距離。
RDL系列儀表可使用液晶調試/顯示模塊，支持現場調試，支持Hart通信協(xié)議、Foundation Fieldbus總線、Profibus PA總線。其中液晶調試/顯示模塊具有調試和顯示的雙重功能，無需使用任何外圍輔助設備，使用戶能夠直觀地讀取、設置所需的各項數據?！?
