1產(chǎn)品名稱及機型指標介紹:
1.1.產(chǎn)品名稱及型號：貴金屬檢測儀X-3600型
1.2.制造商：天津市博智偉業(yè)科技有限公司
1.3.X-3600貴金屬檢測系統(tǒng)包括：X-3600貴金屬檢測儀一臺，貴金屬分析軟件一套，密度分析軟件一套。
1.4.儀器簡介：X-3600型貴金屬檢測儀是一種體現(xiàn)X射線熒光分析技術(shù)新進展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低功率小型X光管為激發(fā)源，電制冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發(fā)的應(yīng)用軟件，充分發(fā)揮各部件的優(yōu)異性能，了整臺儀器的高分辨率及通用適應(yīng)性。任何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。儀器檢測能力強，分辨率高，適用于各行業(yè)對不同元素進行檢測。在不同工作環(huán)境下分析范圍從Al（13號元素）到U（92號元素）。分析，無需制樣，測試時間從幾秒到幾分鐘可調(diào)。檢測從PPM級別到別。
1.5.產(chǎn)品圖片
X-3600型
1.6.工作條件
●工作溫度：15-30℃
●相對濕度：≤70%
●電 源：AC: 220&plun;5V
1.7.技術(shù)性能及指標:
1.7.1.分析元素范圍：從鋁（13號元素）到鈾（92號元素）
1.7.2.元素分析含量范圍：1ppm到99.99%
1.7.3.測量時間：30秒到180秒可調(diào)，一鍵式快速測量3.5秒可出結(jié)果
1.7.4.元素同時分析能力：26種元素
1.7.5.測量樣品型態(tài)：固體，粉末，液體
1.7.6.測量：以黃金樣品為例，高含量樣品（含量在75%以上）誤差&plun;0.1%，低含量樣品（含量在75%以下）誤差&plun;0.3%
1.7.7.多次測量重復性：可達0.1％
1.7.8.測量次數(shù)：任意可調(diào)，且在多次測量時可做平均值及標準偏差測量
1.7.9.探測器：美國AMPTEK原裝Si-Pin探測器，探測面積6mm2分辨率149eV
1.7.10.X光管：W靶X光管，對金銀鉑鈀等貴金屬激發(fā)效率更高
1.7.11.高壓電源：美國Spellman原裝高壓電源，功率50W，50kV,1mA
1.7.12.密度檢測系統(tǒng)：密度檢測儀及檢測軟件一套，可以對樣品的密度進行準確分析鑒定，從而實現(xiàn)對未知樣品內(nèi)部材料的定性定量分析（本系統(tǒng)具有性）
1.7.13.鍍層檢測：儀器可對不同基體上的不同金屬鍍層進行多層檢測，并得出準確結(jié)果（使用者可以根據(jù)需求進行二次開發(fā)）
1.7.14.樣品成像定位系統(tǒng)：內(nèi)置自感光500萬像素攝像頭及的定位軟件，方便樣品的局部定位測量
1.7.15.定量分析方法：基本參數(shù)法，理論Alpha系數(shù)法，經(jīng)驗系數(shù)法，多元回歸法等（國內(nèi)同行業(yè)采取此類綜合計算方法）
1.7.16.定性分析方法：元素自動尋峰，Kl譜線標記法，峰譜比對法等
1.7.17.操作軟件：開放的可供客戶自行開發(fā)和升級的工作軟件，真正實現(xiàn)費用升級，使一機多能。
1.7.18.操作模式：一鍵式操作全電腦控制與人工選擇測試方法兩種測試模式，滿足不同測試單位和測試人員的要求
1.7.19.銀銅位校準：銀，銅位同時校準，使儀器校準更加精準，修正工作曲線，使測量結(jié)果（同行業(yè)中采取此校準方法）
1.7.20.峰位自調(diào)系統(tǒng)：當儀器峰位有所偏移時，軟件可自動調(diào)試恢復儀器到正常測量狀態(tài)（同行業(yè)中采取軟件峰位自調(diào)系統(tǒng)）
1.7.21.三重系統(tǒng)：更換樣品時X光管自動切斷電壓電流；樣品倉打開，X光管快門自動閉鎖；儀器多層屏蔽艙蓋，X射線外溢（同行業(yè)中采取三重系統(tǒng)）
1.7.22.溫度控制系統(tǒng)：內(nèi)部風冷水冷雙循環(huán)冷卻，限度降低X光管工作溫度延長光管使用壽命，且儀器長時間工作穩(wěn)定，測量準確
1.7.23.硬件結(jié)構(gòu)：儀器雙箱體結(jié)構(gòu)，屏蔽干擾，增加儀器整體穩(wěn)定性
1.7.24.樣品倉：方便大型樣品的檢測
1.7.25.測試：測試根據(jù)客戶要求設(shè)計
1.7.26.長期工作穩(wěn)定性：為0.1％；
1.7.27.溫度適應(yīng)范圍：為15℃至30℃
1.7.28.工作電源：交流220&plun;5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
2.儀器硬件部分主要配置
2.1 Si-PIN半導體探測器
技術(shù)指標及功能:
2.1.1.生產(chǎn)廠商：美國Amptek公司
2.1.2探測器類型：電制冷Si-PIN
2.1.3探測面積：6mm2
2.1.4硅活化區(qū)厚度：300um
2.1.5探測器分辨率：對于55Fe，@5.9keV 對于12us的形成時間，半高寬為149eV
2.1.6探測器窗口：鈹窗，25um厚
2.2 X光管
技術(shù)指標及功能:
2.2.1.低功率X射線管（W靶）
2.2.2.使用壽命7000-10000小時
2.2.3.產(chǎn)生X射線激發(fā)源
2.3高壓電源
技術(shù)指標及功能:
2.3.1.生產(chǎn)廠商：美國Spellman公司
2.3.2.電壓和電流從至滿量程連續(xù)可調(diào)：50KV，1mA
2.3.3.電壓調(diào)整率：負載調(diào)整率：從空載到滿載，電壓變化為滿量程0.01 %
2.3.4.線性調(diào)整率：對于規(guī)定的輸入電壓范圍，該數(shù)值為滿量程0.01%
2.3.5.電流調(diào)整率：負載調(diào)整率：從空載到滿載，電流變化為滿量程0.01%
線性調(diào)整率：對于規(guī)定的輸入電流范圍，該數(shù)值為滿量程0.01%
2.3.6.穩(wěn)定性：經(jīng)過半小時預(yù)熱后，每8小時變化不0.05%
2.3.7.溫度系數(shù)：溫度變化一度，電壓變化不過0.01%
2.4 MCA多道分析器:
對采集來的信號進行數(shù)據(jù)處理,并將處理結(jié)果傳輸給計算機
2.5 攝像頭（CCD）
試樣觀察并儲存樣本圖像
2.6 樣品腔
樣品腔尺寸（220mm×200mm×150mm）
3.整機硬件技術(shù)規(guī)格：
3.1外型尺寸：600mm×530mm×330mm
3.2可測試樣品大?。?/span>關(guān)倉測量：220mm×200mm×150mm，開倉測量：無限大
3.3儀器重量：50公斤
3.4工作環(huán)境溫度：0——30℃
3.5工作環(huán)境相對濕度：≤70%
3.6元素分析范圍：鋁（Al）——鈾（U）
3.7含量分析范圍：1PPM——99.99%
3.8測量時間:60秒到180秒可調(diào)，一鍵式快速測量3.5秒可出結(jié)果。
3.9激發(fā)源：低功率X射線管（W靶）
3.10高壓電源：美國Spellman原裝高壓電源
3.11探測器：美國Amptek原裝電制冷Si-Pin半導體探測器
3.12儀器分辨率：錳元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少為180&plun;10eV（合中華人民共和國質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國標準化管理委員會2008年12月31日發(fā)布2009年7月1日實施GB/T 新標準對X射線熒光光譜分析儀：錳元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少為200eV標準要求）。
3.13多道分析器：2048道
3.14工作電源：交流 220V 50Hz
4.儀器軟件配置
軟件功能：
軟件可視頻觀察樣品的放置
同時可分析20多種元素，分析時間短到30秒-120秒
可動進行定性分析，準確
可自動對儀器初始化校準
具有多種光譜擬合分析方法
