儀器描述
　　BCSP光譜儀是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率，適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。
　　儀器特點
　　*顯微測定微小領域的反射率物鏡對焦于被測物微小區域（φ60μm）；
　　*CIE顏色測定　X　Y色度圖，x，y，L，a，b飽和度，主波長等；
　　*檢測速度快探測器，可在1秒內時間重現性高的測定；
　　*消除背面反射光無需進行背面反射處理即可快速準確地測定表面反射率。
　　技術參數
　　型號　BCSP（II型）BCSP（III型）
　　檢測范圍　380~880nm　380~1100nm
　　波長分辨率　1nm　1nm
　　相對檢測誤差﹤1%﹤1%
　　測定方法與標準物比較測定
　　被測物再現性±0.1%以下（2σ）（380nm~410nm）±0.05%以下（2σ）（410nm~800nm）±0.1%以下（2σ）（380nm~410nm）±0.05%以下（2σ）（410nm~1000nm）
　　單次測量時間﹤1s
　　　0.3nm
　　被測物N.A.0.12（使用10×對物鏡時）0.24（使用20×對物鏡時）
　　被測物尺寸直徑>1mm
　　厚度>1mm（使用10×對物鏡時）
　　厚度>0.5mm（使用20×對物鏡時）
　　被測物
　　測定范圍約φ60μm（使用10×對物鏡時）約φ30μm（使用20×對物鏡時）
　　設備重量約30kg（光源外置）
　　設備尺寸　300（W）×550（D）×570（H）mm
　　使用環境水平且無振動的場所
　　溫度：23±5℃
　　濕度：60％以下、無結露
　　操作系統　Windows　XP，Windows　Vista，Win7
　　軟件分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜（有干涉條紋）折射率測定