美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測試儀標準片
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,用于測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度的時候進行標準化校準.也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量和強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB,五金電鍍,半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
測厚儀標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學鍍層片。如:
單鍍層：Ag/xx, 雙鍍層：Au/Ni/xx , 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層：Sn-Pb/xx, 化學鍍層：Ni-P/xx.
我們可以根據客戶不同的金屬元素,鍍層結構,鍍層厚度等要求向美國工廠定做標準片,并可出據標準片厚度值證書.
我公司是一精密測試儀器代理商，為香港儀高集團附屬成員. 我集團在中國和香港地區代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且適合于對微細表面積或鍍層的測量。歡迎來電咨詢或親臨我司測試及參觀!!!
多年來，我們一直致力于為PCB 廠商，電鍍行業，科研機構，半導體生產等電子行業提供的儀器和優質的售后服務。讓客戶滿意，為客戶的價值是我們追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發展藍圖！
