關(guān)鍵詞:埃賽力達(dá)傳感器—熱電堆探測(cè)器
熱電堆探測(cè)器直接探測(cè)熱輻射,是溫度遙測(cè)的設(shè)備,毋需機(jī)械斬波器。PerkinELMER擁有的硅基加工技術(shù)為新一代組件的制造提供了:光電參數(shù)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性,低的溫度系數(shù)的敏感性和卓越的再現(xiàn)性。
關(guān)鍵詞:埃賽力達(dá)傳感器—熱電堆探測(cè)器
熱電堆探測(cè)器可在低系統(tǒng)成本的條件下進(jìn)行溫度遙測(cè)。傳感器無(wú)需冷卻,而且視測(cè)量而定至少可以1度的度。在體溫測(cè)量等測(cè)量范圍較小的情況下,其度可達(dá)0.1度。
關(guān)鍵詞:埃賽力達(dá)傳感器—熱電堆探測(cè)器
含集成信號(hào)處理器的熱電堆模塊:TPMI系列
為了方便使用的目的,PerkinELmer為要的信號(hào)環(huán)境和環(huán)境補(bǔ)償溫度提供TPMI含集成電路的熱電堆傳感器。該熱電堆傳感器十分緊湊小巧,是全校準(zhǔn)的即買即用產(chǎn)品。適用于多種溫度范圍和光學(xué)條件。
等溫封裝
眾所周知快速溫度變化和溫度梯度會(huì)影響熱電堆等熱輻射傳感器的輸出信號(hào)并造成計(jì)量錯(cuò)誤。因此,PerkinElmer 研發(fā)出了帶有大熱質(zhì)量和導(dǎo)熱性的新型封裝概念。該傳感器的可為有相關(guān)需求的工業(yè)領(lǐng)域,汽車業(yè),設(shè)備,如測(cè)耳溫度計(jì)等高要求的儀器,在傳感器暴露在外部熱源附近的情況下,提供穩(wěn)定的信號(hào)。
關(guān)鍵詞:埃賽力達(dá)傳感器—熱電堆探測(cè)器
單元件熱電堆探測(cè)器:TPS系列
PerkinElmer憑借不同的可用芯片尺寸和封裝類型,并可配備多種可用的紅外光譜帶通濾波器中的任意一種。多通道熱電堆主要用途是通過(guò)的吸收進(jìn)查。檢查的主要?dú)怏w是CO2,烴和CO。
熱電堆線性陣列與矩陣陣列:TPL,TPA系列
新的TPA-(矩陣陣列)和TPL-(線性陣列)系列提供安裝在TO-39型封裝內(nèi)的組裝了光學(xué)透鏡,放大器和接口電路的多元件熱電堆陣列(多路器,環(huán)境溫度傳感器)。陣列傳感器作為模塊化產(chǎn)品出售,例如,帶有外部數(shù)據(jù)記憶的PCB。這些TPA-和TPL-模塊都經(jīng)過(guò)EEPROM存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的預(yù)校準(zhǔn)。
關(guān)鍵詞:埃賽力達(dá)傳感器—熱電堆探測(cè)器
光敏電阻又稱光導(dǎo)管,常用的制作材料為硫化鎘,另外還有硒、硫化鋁、硫化鉛和硫化鉍等材料。這些制作材料具有在特定波長(zhǎng)的光照射下,其阻值減小的特性。這是由于光照產(chǎn)生的載流子都參與導(dǎo)電,在外加電場(chǎng)的作用下作漂移運(yùn)動(dòng),電子奔向電源的正,空穴奔向電源的負(fù),從而使光敏電阻器的阻值下降。
關(guān)鍵詞:埃賽力達(dá)傳感器—熱電堆探測(cè)器
光電二管
英文名稱:
photoelectric diode,PD
定義:
由pn結(jié)或金屬?-?半導(dǎo)體(肖特基)接觸等構(gòu)成,能夠?qū)⒐庑盘?hào)轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)的半導(dǎo)體光電探測(cè)器件。
應(yīng)用學(xué)科:
材料科學(xué)技術(shù)(學(xué)科);半導(dǎo)體材料(二級(jí)學(xué)科);半導(dǎo)體微結(jié)構(gòu)材料及器件(二級(jí)學(xué)科)
以上內(nèi)容由科學(xué)技術(shù)名詞審定委員會(huì)審定公布
百科名片
光電二級(jí)管
光電二管(Photo-Diode)和普通二管一樣,也是由一個(gè)PN結(jié)組成的半導(dǎo)體器件,也具有單方向?qū)щ娞匦浴5陔娐分兴皇亲髡?/span>元件,而是把光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)的光電傳感器件。種類
PN型
特性:優(yōu)點(diǎn)是暗電流小,一般情況下,響應(yīng)速度較低。
用途:照度計(jì)、彩色傳感器、光電三管、線性圖像傳感器、分光光度計(jì)、照相機(jī)曝光計(jì)。
PIN型
特性:缺點(diǎn)是暗電流大,因結(jié)容量低,故可獲得快速響應(yīng)
用途:光的檢測(cè)、光通信、光纖、遙控、光電三管、寫字筆、傳真
發(fā)射鍵型
特性:使用Au薄膜與N型半導(dǎo)體結(jié)代替P型半導(dǎo)體
用途:主要用于紫外線等短波光的檢測(cè)









