LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介：
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法，是的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)的升級(jí)。
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚。
儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時(shí)提供10種可供任意選擇的語(yǔ)言，以滿足客戶的各種需求。
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，電池壽命長(zhǎng)，可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測(cè)量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀特點(diǎn)：
◆ 大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
◆ 校準(zhǔn)選項(xiàng)
◆ 出廠時(shí)已校準(zhǔn)，立即可用
◆ 在未知涂層上校準(zhǔn)*
◆ 校準(zhǔn)*
◆ 在無(wú)涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)*
◆ 在有涂層的基體上校準(zhǔn)*
◆ 校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲(chǔ)在的校準(zhǔn)檔案中，也可以調(diào)出
◆ 可選擇的顯示模式，以形式去完成測(cè)量任務(wù)*
◆ 輸入和限*
◆ 在Windows下有簡(jiǎn)單的存儲(chǔ)讀數(shù)檔案管理*
◆ 可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
◆ 統(tǒng)計(jì)*
◆ 可統(tǒng)計(jì)評(píng)估999個(gè)讀數(shù)
◆ 小值、值、測(cè)量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和限
◆ 局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808)
◆ 在線統(tǒng)計(jì)，統(tǒng)計(jì)值概括
3種配置級(jí)別以更好的完成測(cè)量任務(wù)
基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征
型 - 附加統(tǒng)計(jì)評(píng)估
型 - 統(tǒng)計(jì)評(píng)估和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
如果針對(duì)新的測(cè)量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時(shí)候把儀器升級(jí)為型和/或型。升級(jí)在現(xiàn)場(chǎng)輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計(jì)”和/或“統(tǒng)計(jì)& 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)”，便可完成;而不需要把儀器反廠或重新購(gòu)買新機(jī)器。
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀多探頭選擇：
◆ 數(shù)輸接口RS232 或 U
◆ 電源：電池、充電電池、U或外接電源
◆ 測(cè)量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
◆ 測(cè)量速度: 每秒測(cè)量2個(gè)數(shù)值
◆ 存儲(chǔ): 多 9999 個(gè)數(shù)值，140個(gè)文件
◆ 誤差:
涂層厚度 < 100 um: 1% 讀數(shù) +/- 1 um (校準(zhǔn)后)
涂層厚度 > 100 um: 1-3% 讀數(shù) +/- 1 um
涂層厚度 > 1000 um: 3-5% 讀數(shù) +/- 10 um
涂層厚度 > 10000 um: 5% 讀數(shù) +/- 100 um
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀附件：
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)輸和對(duì)整個(gè)目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨(dú)的讀數(shù)或文件傳輸?shù)絎indows
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介：
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法，是的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)的升級(jí)。
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚。
儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時(shí)提供10種可供任意選擇的語(yǔ)言，以滿足客戶的各種需求。
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，電池壽命長(zhǎng)，可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測(cè)量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀特點(diǎn)：
◆ 大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
◆ 校準(zhǔn)選項(xiàng)
◆ 出廠時(shí)已校準(zhǔn)，立即可用
◆ 在未知涂層上校準(zhǔn)*
◆ 校準(zhǔn)*
◆ 在無(wú)涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)*
◆ 在有涂層的基體上校準(zhǔn)*
◆ 校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲(chǔ)在的校準(zhǔn)檔案中，也可以調(diào)出
◆ 可選擇的顯示模式，以形式去完成測(cè)量任務(wù)*
◆ 輸入和限*
◆ 在Windows下有簡(jiǎn)單的存儲(chǔ)讀數(shù)檔案管理*
◆ 可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
◆ 統(tǒng)計(jì)*
◆ 可統(tǒng)計(jì)評(píng)估999個(gè)讀數(shù)
◆ 小值、值、測(cè)量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和限
◆ 局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808)
◆ 在線統(tǒng)計(jì)，統(tǒng)計(jì)值概括
3種配置級(jí)別以更好的完成測(cè)量任務(wù)
基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征
型 - 附加統(tǒng)計(jì)評(píng)估
型 - 統(tǒng)計(jì)評(píng)估和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
如果針對(duì)新的測(cè)量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時(shí)候把儀器升級(jí)為型和/或型。升級(jí)在現(xiàn)場(chǎng)輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計(jì)”和/或“統(tǒng)計(jì)& 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)”，便可完成;而不需要把儀器反廠或重新購(gòu)買新機(jī)器。
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀多探頭選擇：
多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測(cè)量復(fù)雜幾何圖形上的涂層厚度 涂層厚度是20mm也是可以的。根據(jù)需求，我們也可以訂做探頭。
技術(shù)參數(shù)：◆ 數(shù)輸接口RS232 或 U
◆ 電源：電池、充電電池、U或外接電源
◆ 測(cè)量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
◆ 測(cè)量速度: 每秒測(cè)量2個(gè)數(shù)值
◆ 存儲(chǔ): 多 9999 個(gè)數(shù)值，140個(gè)文件
◆ 誤差:
涂層厚度 < 100 um: 1% 讀數(shù) +/- 1 um (校準(zhǔn)后)
涂層厚度 > 100 um: 1-3% 讀數(shù) +/- 1 um
涂層厚度 > 1000 um: 3-5% 讀數(shù) +/- 10 um
涂層厚度 > 10000 um: 5% 讀數(shù) +/- 100 um
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀附件：
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)輸和對(duì)整個(gè)目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨(dú)的讀數(shù)或文件傳輸?shù)絎indows
