SGX-7000系列一體式光纖端面檢測(cè)儀的介紹：

一體式拍照光纖端面檢測(cè)儀  端面質(zhì)量的光檢測(cè)方法

光纖連接處出現(xiàn)問題是網(wǎng)絡(luò)故障的主要原因，因此光纖端面的檢測(cè)至關(guān)重要。本文討論了3種主要的端面檢測(cè)方法。

光纖端面加工質(zhì)量對(duì)光纖通信系統(tǒng)的整體性能影響較大，據(jù)估計(jì)，網(wǎng)絡(luò)中半數(shù)以上的損耗是由光纖連接不理想造成的。

光纖端面檢測(cè)技術(shù)可以查出兩類主要的加工問題：幾何問題和清潔問題。幾何問題通常是在拋光或處理的過程中造成的，光纖工作時(shí)其影響不會(huì)發(fā)生變化。該問題可以通過光干涉顯微鏡和執(zhí)行端面檢測(cè)程序的專門軟件探測(cè)出來，實(shí)現(xiàn)干涉檢測(cè)過程的硬件和軟件現(xiàn)在已經(jīng)比較完善，遵循一系列業(yè)內(nèi)廣泛接受的標(biāo)準(zhǔn)。

“清潔”一詞則被廣泛用于描述光纖端面性損傷（例如劃傷、裂痕或凹點(diǎn)）和臨時(shí)性污染（污垢、油漬、水或清洗劑的殘留）。保持連接頭的清潔是光纖生產(chǎn)整個(gè)過程中都需要注意的問題，在裝配過程中的任意環(huán)節(jié)都有可能對(duì)接頭造成損害和污染。

由于缺乏相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)，加上主觀認(rèn)知差異、測(cè)試的準(zhǔn)確性低，以及沒有可重復(fù)的測(cè)試方法，想要確定可以接受的端面污染程度十分困難。然而額外的損傷可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失，破環(huán)網(wǎng)絡(luò)連接性，端面檢測(cè)對(duì)于通信和數(shù)據(jù)應(yīng)用非常關(guān)鍵。如果是高功率應(yīng)用，這些損傷可能帶來災(zāi)難性的后果，嚴(yán)重的會(huì)造成連接頭完全失效。

本文將介紹目前生產(chǎn)、研發(fā)和終端用戶實(shí)現(xiàn)清潔檢測(cè)的不同方法，討論3種2D光檢測(cè)技術(shù)能夠多大程度地評(píng)估端面加工質(zhì)量，比較了每種方法的優(yōu)勢(shì)和不足之處。這3種方法包括操作者通過顯微鏡的人工檢測(cè)，操作者借助“輔助”軟件操作顯微鏡的半人工檢測(cè)，以及全自動(dòng)的檢測(cè)系統(tǒng)。

檢測(cè)的內(nèi)容、時(shí)間和地點(diǎn)

端面檢測(cè)（EFI）需要應(yīng)用在整個(gè)供應(yīng)鏈系統(tǒng)的各個(gè)環(huán)節(jié)。光纜生產(chǎn)過程通常有如下幾個(gè)檢測(cè)點(diǎn)：拋光過程結(jié)束后，中間測(cè)試的過程中，以及終測(cè)試。QA部門需要在污點(diǎn)檢測(cè)、新流程或產(chǎn)品研發(fā)、或常規(guī)維護(hù)過程中應(yīng)用EFI。終用戶則在QA、常規(guī)維護(hù)和可靠性測(cè)試環(huán)節(jié)應(yīng)用EFI。

光纖接頭的端面缺陷包括劃傷、凹點(diǎn)、裂痕、松脫或固定的污染，典型地可分為劃傷和顆粒污染兩大類。擦傷的定義是比端面直徑大得多的損傷（通常>30:1），所有其它損傷統(tǒng)一定義為顆粒污染或損傷。

擦傷通常是拋光過程中形成的，但在光纖插拔等在線業(yè)務(wù)操作過程中也有可能產(chǎn)生。在給定焦距下的某一畫面中憑肉眼觀察很難區(qū)分擦傷和裂痕，凹點(diǎn)則是的、不規(guī)則的材料損傷，通常是因?yàn)椴灰?guī)范的操作導(dǎo)致，或是在生產(chǎn)和接頭插拔過程中產(chǎn)生。

一體式拍照光纖端面檢測(cè)儀 技術(shù)參數(shù)及規(guī)格

注：表格中“Y”代表有此項(xiàng)功能，“－”代表無此項(xiàng)功能。