SEIFERT XRD Space Universal
通用型射線衍射分析儀
產品特點
大檢測范圍,大角度范圍,高檢測
粉末、織構、應力和殘余奧氏體分析
可選工件轉換裝置和外部預定位系統
快速實時檢測,包括1D和2D檢測
可選掠入式射束、反射計、薄膜分析、反分辨率模式等
可選高分辨率分析的顯微鏡鏡頭和用于顯微衍射分析的光學組件

咨詢電話SERVICE LINE
02168660008
15821903223





掃一掃
進入手機店鋪
SEIFERT XRD Space Universal
通用型射線衍射分析儀
產品特點
大檢測范圍,大角度范圍,高檢測
粉末、織構、應力和殘余奧氏體分析
可選工件轉換裝置和外部預定位系統
快速實時檢測,包括1D和2D檢測
可選掠入式射束、反射計、薄膜分析、反分辨率模式等
可選高分辨率分析的顯微鏡鏡頭和用于顯微衍射分析的光學組件
