①光學座標系統為基點測量產品的任意二維尺寸。
②探針座標系統為基點測量產品的三維空間及二維平面尺寸。
③采用相同的座標系統，使用測頭的三維測量可與影像二維混合使用或使用影像的二維平面與三維立體測量結合。
全自動編程：光學測量及探針測量可同時在一組編程中混合使用。
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基本功能介紹：
1. 提供影像量測工具，可進行基本幾何元素點線圓弧量測
2. 組合元素量測，如角度,,圓心距,圓切線,兩線距，兩線中線,中心點，垂直距離，角平分線,兩線交點等
3. 形位誤差量測，如同心度,真圓度,直線度,平行度等
4. 強大之數算分析
5. 影像直接經由計算機屏幕顯示觀察直接量測存盤
6. 利用影像工具可快速進行2D輪廓邊界點掃描
7. 量測工件圖形化顯示，圖形可存盤、打印，并可以轉TXT、WORD、EXCEL及AUTOCAD檔案式
8. 提供公差分析，可進行之品管檢驗
9. 工件的對象化可直接對對象進行幾何基本運算
10. 兼容于2000, XP操作系統
功能介紹：
11. 自動對焦
12. 影像自動捕捉，操作簡便，量測高
13. IUI功能，以盡可能少的時間完成操作
14. AUTOCAD讀檔，圖形比對
15. 全自動同心變倍，同一工件可在不同倍率下量測
16. 工作不擺正，有座標轉換功能，量測效率高
17. 全自動編程測量
18. SPC功能
19. 靜態量測功能。
