詢價
- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：廈門
- 光譜范圍：200-1100 nm
- 光譜分辨率：0.05 ~ 3 nm
- 光路結構：非交叉C-T
- 探測器制冷溫度：-5 ℃
- 積分時間：0.1ms ~ 256s
產品概述
奧譜天成傾力推出的ATP3330及ATP5330超薄超高分辨率微型光纖光譜儀，代表了微型光纖光譜儀技術的一次重要飛躍。該系列產品集超薄設計、超高分辨率與先1進制冷技術于一身，是基于奧譜天成自主研發的M型光路結構打造的新一代高性能光譜分析核心模塊。它們不僅突破了微型光譜儀在物理尺寸上的限制，更在光學性能上達到了業界領1先水平，旨在為各類高精度、高靈敏度的光譜分析應用提供解決方案。
本系列產品的卓1越性能，首先歸功于其創新的M型光路設計。該設計相較于傳統的Czerny-Turner光路，在保持結構緊湊的同時，通過優化光路布局，顯著減少了像差，從而獲得了更高的光通量和更優異的光譜成像質量。正是這一核心設計，使得ATP3330系列能夠實現0.05納米的極1致分辨率，能夠清晰分辨波長極為接近的光譜特征，為尖1端科研與精密工業檢測奠定了堅實基礎。
為了滿足不同應用場景下對信噪比和穩定性的苛刻要求，該系列提供了從非制冷到深度制冷的靈活配置。其中，ATP5330子系列采用了TEC半導體制冷技術，可將探測器核心溫度穩定控制在-5℃。這種主動制冷技術能極大地抑制探測器的暗電流和熱噪聲，其直接效益是大幅拓寬了光譜儀的動態范圍，并顯著提升了信噪比。這使得ATP5330系列在測量微弱光信號（如拉曼光譜、熒光光譜）時，能夠獲得極其純凈、可靠的數據。特別值得一提的是ATP5330P型號，它采用了深度制冷至-10℃的背照式CCD探測器，憑借其更高的量子效率和更低的讀出噪聲，將信噪比表現提升至更優水平，堪稱極弱光探測的利器。
型號配置一覽
| 型號 | 探測器制冷 | 探測器像素 |
|---|---|---|
| ATP3330 | 否 | 2048 |
| ATP3334 | 否 | 4096 |
| ATP5330 | 是，-5℃ | 2048 |
| ATP5334 | 是，-5℃ | 4096 |
| ATP5330P | 是，-10℃，背照式CCD | 2048 |
ATP3330超高分辨率超薄微型光纖光譜儀技術參數
ATP3330超高分辨率超薄微型光纖光譜儀產品主要特征
光學核心：采用獨特的M型光路與非交叉C-T結構，確保超高分辨率；覆蓋200-1100nm的寬光譜范圍，分辨率在0.05nm至3nm間可調。
探測系統：可選2048或4096像素的線陣探測器，配備16位高精度ADC，確保數據采集的豐富度與準確性。
性能：寬廣的積分時間范圍，從0.1ms至256s，既能捕捉高速瞬態光譜，也能累加測量極微弱信號。
便捷集成：超薄超小的機械設計，極大節省安裝空間。ATP3330供電簡便，僅需一個5V直流電源或直接通過USB接口取電；ATP5330系列因制冷功耗需要額外的5V電源。數據輸出采用現代化的USB Type-C接口，并預留了20針可編程擴展接口，為用戶的二次開發和系統集成提供了極大的靈活性。
輸入方式：支持標準的SMA905光纖輸入和自由空間光輸入，兼容性強。
應用領域
憑借其頂1尖的性能與卓1越的適應性，ATP3330/ATP5330系列已成為眾多前沿領域的理想選擇：
科研分析：適用于LIBS（激光誘導擊穿光譜）、等離子體發光檢測、拉曼光譜檢測等需要高分辨率解析精細光譜結構的研究。
光源監測與分選：用于激光器波長穩定性監測、LED光譜分析與顏色分選，確保光源產品的質量與一致性。
環境與工業檢測：作為核心模塊集成于水質分析儀、在線過程監測系統以及材料反射、透射光譜檢測設備中。
通用光譜研究：廣泛服務于光譜分析、輻射分光分析、分光光度分析等各類光學實驗室與工業現場。
綜上所述，奧譜天成ATP3330/ATP5330超薄超高分辨率M型光路光纖光譜儀成功地將超高分辨率、低噪聲性能與微型化設計融為一體，以高性價比和高可靠性，為現代光譜技術從實驗室走向在線、便攜和嵌入式應用，提供了強大的技術支撐與核心裝備。
