詢價
- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：廈門
- 光譜范圍：0.2~5.0μm
- 最佳分辨率：5.0nm
- 最快成譜時間：5.0s
- 探測器制冷：Yes，-30℃
ATP7820系列是奧譜天成基于長期光譜技術積累推出的寬波段、高分辨率光譜儀。該光纖光譜儀采用旋轉掃描光柵技術與模塊化設計，覆蓋從紫外、可見光到中遠紅外的寬光譜范圍，為用戶在材料分析、環境監測與科研探索等領域提供了性能可靠、配置靈活的解決方案。
核心設計：旋轉掃描與寬波段覆蓋
ATP7820光纖光譜儀采用旋轉凹面光柵設計，通過軟件控制實現的波長掃描。這種設計在保證光學性能的同時，實現了從0.2 μm到13.0 μm的寬光譜覆蓋。系列提供多種型號，用戶可根據具體應用選擇合適的光譜范圍。該設計配合仿真優化的光路，有助于獲得良好的信噪比與動態范圍。
性能特點與技術配置
光纖光譜儀采用TEC深度制冷技術，探測器工作溫度可達-20℃至-40℃，有效降低了熱噪聲，無需依賴液氮冷卻。系統支持多種光輸入方式，包括SMA905光纖接口與自由空間光輸入。數據通過USB 2.0或UART接口輸出，采用24位ADC確保數據采集精度。供電設計簡潔，僅需+12V直流電源，并配備擴展接口支持外觸發及功能拓展。
型號選擇與關鍵參數
用戶可根據測量需求選擇不同光譜范圍與分辨率的型號。儀器具備可配置的入射狹縫寬度，便于平衡光通量與分辨率。內部集成斬波器與可選濾光片，有助于適應復雜的光學測量環境。主要操作均可通過計算機軟件自動控制，簡化了使用流程。
應用領域
ATP7820光纖光譜儀系列適用于多種光譜分析場景：
材料光學分析：用于固體、液體及薄膜材料的吸收、反射與透射光譜測量。
高溫過程監測：適用于發動機尾焰、工業燃燒過程等高溫物體的光譜特性分析。
地物與遙感：可用于地面物體的光譜特征采集，為環境監測與遙感研究提供數據支持。
該產品將寬波段探測能力、良好的分辨率和穩定的制冷技術相結合，為科研與工業領域的光譜分析提供了一個可定制、易集成的測量平臺。
