詢價
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：廈門
- 光譜范圍：0.2~5.0μm
- 最佳分辨率：5.0nm
- 最快成譜時間：5.0s
- 探測器制冷：Yes，-30℃
ATP7820系列是奧譜天成基于長期光譜技術(shù)積累推出的寬波段、高分辨率光譜儀。該光纖光譜儀采用旋轉(zhuǎn)掃描光柵技術(shù)與模塊化設(shè)計，覆蓋從紫外、可見光到中遠(yuǎn)紅外的寬光譜范圍，為用戶在材料分析、環(huán)境監(jiān)測與科研探索等領(lǐng)域提供了性能可靠、配置靈活的解決方案。
核心設(shè)計：旋轉(zhuǎn)掃描與寬波段覆蓋
ATP7820光纖光譜儀采用旋轉(zhuǎn)凹面光柵設(shè)計，通過軟件控制實(shí)現(xiàn)的波長掃描。這種設(shè)計在保證光學(xué)性能的同時，實(shí)現(xiàn)了從0.2 μm到13.0 μm的寬光譜覆蓋。系列提供多種型號，用戶可根據(jù)具體應(yīng)用選擇合適的光譜范圍。該設(shè)計配合仿真優(yōu)化的光路，有助于獲得良好的信噪比與動態(tài)范圍。
性能特點(diǎn)與技術(shù)配置
光纖光譜儀采用TEC深度制冷技術(shù)，探測器工作溫度可達(dá)-20℃至-40℃，有效降低了熱噪聲，無需依賴液氮冷卻。系統(tǒng)支持多種光輸入方式，包括SMA905光纖接口與自由空間光輸入。數(shù)據(jù)通過USB 2.0或UART接口輸出，采用24位ADC確保數(shù)據(jù)采集精度。供電設(shè)計簡潔，僅需+12V直流電源，并配備擴(kuò)展接口支持外觸發(fā)及功能拓展。
型號選擇與關(guān)鍵參數(shù)
用戶可根據(jù)測量需求選擇不同光譜范圍與分辨率的型號。儀器具備可配置的入射狹縫寬度，便于平衡光通量與分辨率。內(nèi)部集成斬波器與可選濾光片，有助于適應(yīng)復(fù)雜的光學(xué)測量環(huán)境。主要操作均可通過計算機(jī)軟件自動控制，簡化了使用流程。
應(yīng)用領(lǐng)域
ATP7820光纖光譜儀系列適用于多種光譜分析場景：
材料光學(xué)分析：用于固體、液體及薄膜材料的吸收、反射與透射光譜測量。
高溫過程監(jiān)測：適用于發(fā)動機(jī)尾焰、工業(yè)燃燒過程等高溫物體的光譜特性分析。
地物與遙感：可用于地面物體的光譜特征采集，為環(huán)境監(jiān)測與遙感研究提供數(shù)據(jù)支持。
該產(chǎn)品將寬波段探測能力、良好的分辨率和穩(wěn)定的制冷技術(shù)相結(jié)合，為科研與工業(yè)領(lǐng)域的光譜分析提供了一個可定制、易集成的測量平臺。
