詢價
- 企業(yè)類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：廈門
- 光譜范圍：0.2~12.0μm
- 最佳分辨率：13nm
- 最快成譜時間：15s
- 探測器制冷：Yes，-40℃
- 最大波段數(shù)：25000
- 最大光譜范圍：0.2~12.0μm
ATP7820系列是奧譜天成推出的寬波段光譜測量系統(tǒng)，基于旋轉掃描光柵技術設計，覆蓋紫外至中遠紅外波段。該產品適用于需要寬光譜覆蓋與良好分辨率的多類分析場景，通過可配置的光學系統(tǒng)與制冷探測器設計，為科研與工業(yè)應用提供穩(wěn)定可靠的光譜測量方案。
產品概覽
該系列光纖光譜儀采用旋轉凹面光柵掃描結構，通過計算機控制實現(xiàn)自動波長掃描，系統(tǒng)具備寬波段覆蓋能力，標準型號覆蓋范圍可達0.2–12.0μm。產品提供多種波段配置選擇，并支持定制化需求，滿足用戶在不同應用場景中對光譜范圍與分辨率的綜合要求。
光學與系統(tǒng)設計
ATP7820光纖光譜儀采用優(yōu)化的光路設計，配合可調節(jié)入射狹縫，可在光通量與光譜分辨率之間靈活調整。探測器采用TEC深度制冷技術，有效降低熱噪聲影響，無需液氮輔助冷卻。系統(tǒng)內置斬波器及可選濾光片組件，支持SMA905光纖接口與自由空間光輸入，適配多種光學耦合方式。
型號配置與性能參數(shù)
系列提供六種標準型號，覆蓋不同光譜范圍：
ATP7820-25：0.2–2.5μm
ATP7820-50：0.2–5.0μm
ATP7820-60：0.2–6.0μm
ATP7820-90：0.2–9.0μm
ATP7820-120：0.2–12.0μm
各型號均采用24位ADC數(shù)據(jù)采集，支持USB 2.0與UART數(shù)據(jù)輸出接口。系統(tǒng)供電為+12V直流電源，結構緊湊，便于系統(tǒng)集成與現(xiàn)場部署。
應用領域
ATP7820光纖光譜儀系列適用于以下典型應用場景：
材料光學性能分析：用于固體、液體及薄膜材料的吸收、反射與透射光譜測量
高溫過程光譜監(jiān)測：適用于燃燒分析、發(fā)動機尾焰等高溫輻射體的光譜特性研究
地物光譜采集：支持地面目標光譜測量，為環(huán)境監(jiān)測、農業(yè)遙感及資源調查提供數(shù)據(jù)支持
該光纖光譜儀結合寬波段覆蓋、可配置光學系統(tǒng)與集成化控制軟件，為用戶提供了適用于多種光譜分析場景的可靠測量工具。
