詢價
- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：廈門
- 光譜范圍：180-1150nm
- 光路結構：M 型光路
- 檢測器：2048像素線性 CMOS
1.ATP3030高分辨率光纖光譜儀產品介紹
ATP3030高分辨率光纖光譜儀作為奧譜天成 ATP3000系列高分辨率光譜儀的核心型號，突破傳統交叉 C-T 光路局限，創新采用M 型非交叉 C-T 光路結構，實現了超高分辨率與低雜散光的完美平衡。該儀器體積小巧，性能卓越，兼具高速檢測，高可靠性與高性價比優勢，廣泛適用于在線監測，科研分析等嚴苛應用場景，為用戶提供精準，穩定，高效的光譜分析解決方案。
2.ATP3030高分辨率光纖光譜儀特征
內置氙燈同步觸發控制電路
光譜范圍: 200-1100 nm
光譜分辨率: 0.05-2nm
光路結構: 非交叉C-T
檢測器： 2048或4096像素
積分時間: 0.1ms-256s
供電電源: 直流5V USB供電
ADC位深：16位
ADC采樣率：2MHz
數據輸出接口：USB Type-C
30針擴展接口
3.ATP3030高分辨率光纖光譜儀應用場景
1.等離子體發光檢測
2.LIBS
3.拉曼光譜檢測
4.波長監測，激光、LED等發光體
5.水質分析儀
6.紫外煙氣分析儀
7.LED分選機、顏色檢測
8.微量、快速分光光度計
9.光譜分析、輻射分光分析、分光光度分析
10.反射、透射光譜檢測
4.ATP3030高分辨率光纖光譜儀核心技術優勢
1.ATP3030高分辨率光纖光譜儀極限分辨率 0.05nm（需搭配窄狹縫 + 高刻線光柵組合），常規配置可達 0.1nm/0.2nm，滿足精細光譜分析需求
2.M 型光路設計有效抑制雜散光干擾，520nm 處光斑尺寸僅 11μm，顯著優于傳統交叉 C-T 光路（98.9μm），提升測量精度
全波段雜散光控制在0.1% 以下，確保微弱信號的準確捕捉
3.光譜測量范圍覆蓋180-1150nm（UV-Vis-NIR 全波段），單臺儀器可通過選配不同波段光柵實現特定波長范圍的精準測量
4.支持 2048 像素或 4096 像素線性 CMOS 檢測器選擇，適配不同分辨率與靈敏度需求
5.多種狹縫（5μm/10μm/25μm/50μm）與光柵（1200/1800/2400/3600 線 /mm）組合，滿足個性化測量需求
6.16 位 ADC 轉換器，采樣率高達2MHz，實現快速光譜采集
7.積分時間范圍0.1ms-60s，適配從快速動態過程到微弱信號檢測的多樣化場景
8.內置氙燈同步觸發控制電路，支持外部觸發與同步測量，提升實驗靈活性
9.工業級設計，適應 - 10℃~45℃寬溫度范圍工作，具備優異的環境適應性
10.單電源供電（DC 5V±10% 或 USB 直接供電），簡化系統集成
11.支持 USB 2.0 與 RS232/UART 雙接口數據輸出，兼容多種數據采集系統.
12.配套專業光譜分析軟件，支持實時顯示、數據存儲、光譜處理與導出，操作便捷
