XJTUMicro顯微數(shù)字圖形相關(guān)法全場應(yīng)變測量分析系統(tǒng)------微米和納米級顯微三維測量技術(shù)  近年來三維數(shù)字圖像相關(guān)法DIC（digital image correlation）以其高、魯棒性、方便性，廣泛應(yīng)用到眾多學(xué)科的材料力學(xué)性能測試分析。西安交通大學(xué)在“XJTUDIC三維數(shù)字散斑動態(tài)應(yīng)變測量分析系統(tǒng)”基礎(chǔ)上，發(fā)展出四種顯微數(shù)字圖形相關(guān)法全場應(yīng)變測量分析系統(tǒng)1. 基于單光路光學(xué)顯微鏡的二維全場應(yīng)變測量2. 基于體式顯微鏡的三維全場應(yīng)變測量3. 基于電子顯微鏡的二維全場應(yīng)變測量4. 基于電子顯微鏡的三維全場應(yīng)變測量一、基于單光路光學(xué)顯微鏡的二維全場應(yīng)變測量普通光學(xué)顯微鏡多為單個光路，特點是價格便宜、放大倍數(shù)大，使用簡單方便，是目前用量的顯微鏡。普通光學(xué)顯微鏡應(yīng)用在全場應(yīng)變，只能用于二維應(yīng)變測量（也稱為片內(nèi)測量），較難用于三維全場應(yīng)變測量。各種光學(xué)顯微鏡與“XJTUDIC三維數(shù)字散斑動態(tài)應(yīng)變測量分析系統(tǒng)”配合使用，可以快速方便地實現(xiàn)二維全場應(yīng)變測量分析二、基于體式顯微鏡的三維全場應(yīng)變測量基于體式顯微鏡的三維全場應(yīng)變測量采用CMO型體視顯微鏡（Common Main Objective ，CMO），配合“XJTUDIC三維數(shù)字散斑動態(tài)應(yīng)變測量分析系統(tǒng)”進(jìn)行三維全場應(yīng)變測量分析。CMO型體視顯微鏡（Common Main Objective ，CMO）光路體式顯微鏡（Stereo Light Microscope，SLM）具有兩個光路，分為兩種類型：Greenough型體視顯微鏡(G-SLM)和CMO型體視顯微鏡(CMO-SLM)。G-SLM結(jié)構(gòu)簡單，加工相對容易，價格也便宜，可批量生產(chǎn)，適用于工業(yè)流水線，但是G-SLM的像面與聚焦面不平行，容易產(chǎn)生徑向的圖像失真，用于高的精密測量略顯不足。CMO-SLM的像面和聚焦面平行，適于實驗室等高精密環(huán)境中，但CMO-SLM價格偏高，加工過程復(fù)雜。Greenough型和CMO型體式光學(xué)顯微鏡的結(jié)構(gòu)對比圖CMO型體式光學(xué)顯微鏡的光路結(jié)構(gòu)圖三、基于電子顯微鏡的二維全場應(yīng)變測量“XJTUDIC三維數(shù)字散斑動態(tài)應(yīng)變測量分析系統(tǒng)”配合各種掃描電子顯微鏡  (Scanning Electron Microscope，SEM) 和原子力電子顯微鏡（atomic force microscopy，AFM），可以快速方便實現(xiàn)二維全場應(yīng)變測量。掃描電子顯微鏡結(jié)構(gòu) 電子顯微鏡二維全場應(yīng)變四、基于電子顯微鏡的三維全場應(yīng)變測量與各種掃描電子顯微鏡  (Scanning Electron Microscope，SEM) 和原子力電子顯微鏡（atomic force microscopy，AFM）配合，也可實現(xiàn)三維全場應(yīng)變測量，需要進(jìn)行多角度測量，利用工業(yè)攝影測量三維重建的原理，配合“XJTUDIC三維數(shù)字散斑動態(tài)應(yīng)變測量分析系統(tǒng)”實現(xiàn)三維全場應(yīng)變測量。五、顯微鏡的三維標(biāo)定技術(shù)要實現(xiàn)顯微三維測量，首先要解決顯微鏡的三維標(biāo)定技術(shù)。   在“XJTUDIC三維數(shù)字散斑動態(tài)應(yīng)變測量分析系統(tǒng)”的基礎(chǔ)上，研制了各種顯微鏡的微小視場三維標(biāo)定方法各種顯微三維標(biāo)定顯微應(yīng)變測量使用的微小拉力試驗機(jī)隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，微納技術(shù)己經(jīng)成為當(dāng)今科技發(fā)展的前沿科學(xué)之一。顯微鏡是顯微視覺系統(tǒng)的標(biāo)志性設(shè)備，顯微鏡技術(shù)的發(fā)展推動和加快了顯微視覺系統(tǒng)的發(fā)展及應(yīng)用，尤其是現(xiàn)代顯微鏡具有高倍率、高分辨率和高清晰度等卓越性能，可以提供高質(zhì)量的圖像，極大地提高了顯微視覺系統(tǒng)的分辨能力。顯微視覺的發(fā)展帶動了相關(guān)理論與技術(shù)的進(jìn)步，為了適應(yīng)和進(jìn)一步促進(jìn)顯微視覺的發(fā)展，圖像分析、圖像處理與測量技術(shù)等均在不斷地發(fā)展并涌現(xiàn)了大量新方法。顯微視覺中的顯微立體視覺能夠?qū)崿F(xiàn)立體成像功能，近年來越來越受到重視，在微操作、微裝配、微注射、微測量等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。顯微立體視覺系統(tǒng)不同于宏觀立體視覺系統(tǒng)的顯著特點就是在成像過程中加入了放大環(huán)節(jié)，因此，顯微鏡是實現(xiàn)顯微立體視覺系統(tǒng)不可或缺的組成部分。掃描電子顯微鏡  (Scanning Electron Microscope，SEM) 具有放大倍率高、焦深大、分辨率高等特點，是這一領(lǐng)域應(yīng)用較多的一種顯微鏡，但其不足之處是操作復(fù)雜且設(shè)備昂貴。相對于掃描電子顯微鏡，體視顯微鏡 (Stereo Light Microscope，SLM)在這方面的應(yīng)用相對少些。SLM具有工作空間大、工作距離大、便于微觀對象的操作、非接觸式觀測、對微觀對象無損傷和實時性好等優(yōu)點，它的應(yīng)用日益廣泛。    西安交通大學(xué) 機(jī)械工程學(xué)院 模具與先進(jìn)成形技術(shù)研究所 信息機(jī)電研究所地址：陜西省西安市咸寧西路28號 西安交通大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院 郵編：710049電話：（技術(shù)支持），、轉(zhuǎn)807電子郵件:   網(wǎng)站：www.xjtuom.com傳真： 轉(zhuǎn)763026#以上是XJTUMicro顯微數(shù)字圖形相關(guān)法全場應(yīng)變測量分析系統(tǒng)的詳細(xì)信息，如果您對XJTUMicro顯微數(shù)字圖形相關(guān)法全場應(yīng)變測量分析系統(tǒng)的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯(lián)系我們獲取XJTUMicro顯微數(shù)字圖形相關(guān)法全場應(yīng)變測量分析系統(tǒng)的新信息。