RQCM是可以在材料沉積、分解或滲透過程中測量薄膜屬性的一種非常先進(jìn)的方法，系統(tǒng)多支持3片晶片同時被測量，所有數(shù)據(jù)會被隨時記錄并通過軟件轉(zhuǎn)變成圖表實(shí)時顯示到電腦的Windows窗口上，以便于觀察。整套系統(tǒng)主要由石英晶體微天平、頻率范圍為3.8MHz-6MHz或5.1MHz-10MHz的鎖相振蕩器、以及晶片固定器（按不同材質(zhì)，不同安裝方法分為CHC-100/CHK-100/CHT-100三種）和液體槽（FC-550和GC-15）所構(gòu)成；另外，RQCM系統(tǒng)中所使用的晶片也與工業(yè)用的晶片不一樣，其中主要體現(xiàn)在晶片的尺寸上，微天平中所用的晶片都為直徑1″的大尺寸晶片,依據(jù)不同屬性，不同的工作溫度,形成一個系列，詳見附件。 主要特點(diǎn)：       1）晶體的頻率、質(zhì)量、阻抗可實(shí)時測量      2）基于Windows下的軟件支持      3）支持3片晶片同時測量      4）測量分辨率<0.4ng/cm2        5）支持晶片滿載工作      6）具有可調(diào)抵消電容      7）晶片電極完全電信號隔離      8）機(jī)載的數(shù)據(jù)獲取功能以上是微天平系統(tǒng)Researched Quartz Crystal Microbalance的詳細(xì)信息，如果您對微天平系統(tǒng)Researched Quartz Crystal Microbalance的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯(lián)系我們獲取微天平系統(tǒng)Researched Quartz Crystal Microbalance的新信息。