電子散斑干涉是繼全息干涉之后發展起來的一種實驗力學新方法。它舍棄了傳統的拍攝沖印照片復雜的濕處理過程，而直接依靠光學成像系統和計算機圖像采集處理系統獲得干涉條紋。這種方法在工程上已得到了較廣泛的運用。用于解決工程中的強度和剛度問題，并可用于殘余應力測量。
TS-SI-1X型一維電子散斑干涉儀能實時觀察代表面內位移的干涉條紋，配以穩定的懸臂梁加載實驗裝置和圓盤受均布載荷（氣壓）或集中力實驗裝置，使得整個系統穩定，易于調節，可以獲得很好的教學效果。
TS-SI-1X型一維電子散斑干涉儀能實時觀察代表面內位移的干涉條紋，配以穩定的懸臂梁加載實驗裝置和圓盤受均布載荷（氣壓）或集中力實驗裝置，使得整個系統穩定，易于調節，可以獲得很好的教學效果。
其他說明
| ◆ 光源:半導體泵浦固體激光器(綠光) , 輸出功率 20mw , 波長 532nm . ◆ 相機: 1280 × 1024 U2.0 數字攝像頭. ◆ 鏡頭: 25mm 定焦鏡頭(標配),可選配其它 C 接口鏡頭. ◆ 工作距離: 400 ~ 100mm . ◆ 相移器: 5nm . ◆ 演示試件: 圓盤受均布載荷,懸臂梁受集中力. ◆ 范圍:￠ 300mm ◆ 尺寸: 650mm( 長 ) × 430mm (寬)× 300mm (深). ◆ 重量: 24kg . |
