相移電子散斑干涉（PI）技術是繼光彈性和全息干涉等光測力學方法之后發展起來的一種實驗力學新方法。它直接依靠激光干涉和計算機圖像采集處理系統獲得干涉條紋。這種方法在工程上已經得到了較廣泛的運用，可用于解決工程中的強度和剛度問題，并可用于殘余應力測量。
其他說明
| 主要技術參數指標: ◆ 光源:半導體泵浦固體激光器(綠光) , 輸出功率大于 20mw , 波長 532nm ◆ 相機: 1280 &tim; 1024 U2.0 數字攝像頭 ◆ 鏡頭: 25mm 定焦鏡頭(標配),可選配其它 C 接口鏡頭 ◆ 工作距離: 400 ~ 800mm ◆ 相移器: 5nm ◆ 演示試件: 圓盤受均布載荷,三點彎曲梁 ◆ 范圍:￠ 300mm ◆ 尺寸: 520cm &tim; 370cm &tim; 250cm ◆ 重量: 22kg |
