X-Strata　960　X熒光射線測厚儀，適用用于電子元器件、半導體、PCB、汽車部件、功能性電鍍、裝飾件、連接器多個行業，可快速測定各種材料構成的多層鍍層厚度。長壽命100瓦微焦點X射線管（其他測厚儀為50瓦），與CMI900相比，相同測量時間可以30％分析，或者相同的要求可以減少50％的測量時間。三種樣品臺可供選擇：程控XYZ軸、手動XY軸、固定位置樣品臺。更小準直器，測量更小區域，小直徑15um圓形準直器。CCD系統，可實現對測定樣品的高分辨、實時、彩色圖像觀測。自由距離測量DIM：更靈活地測量不規則樣品（凹凸）。一體機工作站式設計，簡化設備安裝，減少占用空間。
　　
　　技術參數：
　　◆元素范圍：Ti22–U92同時分析層數和元素定量：5層（4層＋基體）；多同時15種元素定量
　　◆X射線激發：100瓦（50kV-2.0mA）微焦點鎢靶X射線管（可選鉬靶X射線管）
　　◆X射線檢測：高分辨封氣（Xe）正比計數器，靈敏度高，可多裝備3種二次濾光片
　　◆準直器：單準直器或多準直器系統，準直器系統多可安裝4種規格的準直器，備有各種規格準直器（0.015mm-0.5mm）圓形或矩形供客戶選用
　　◆數字脈沖處理器：4096通道數字多道分析器，包含自動波譜校正和PulsePileRejection功能
　　◆樣品臺：程控XYZ軸：300x200x230mm
　　手動XY軸：250x250mm＋230mm程控Z軸
　　固定位置樣品臺，高度230mm

　　◆CCD系統：1／2"CMOS-640X480VGAresolution鏡頭標準為15倍，可選購40倍或由軟件放大X1、X2、X3、X4激光自動對焦
　　◆自由距離測量DIM：在12.7～88.9mm自由聚焦范圍內可準確聚焦樣品表面任意測量點，并有自動雷射聚焦功能
　　◆統計報表功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、值、小值、數據變動范圍、量測點數、控制上線圖、控制下線圖、CP、CPK數據分組、X-bar／R圖、直方圖
　　數據儲存功能統計軟件允許用戶自行設計報表（另可選購Excel輸出功能）
　　◆電源：85-130V或者215-265V、頻率47-63Hz
　　◆工作環境：10－40℃、相對濕度小于98％，無冷凝水
　　◆儀器尺寸：H744xW686xD813
　　◆重量：160公斤。