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高分辨率二次離子質(zhì)譜NanoSIMS 50L
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高分辨率二次離子質(zhì)譜NanoSIMS 50L

產(chǎn)品價格:
電議
產(chǎn)品型號:
NanoSIMS 50L
供應商等級:
企業(yè)未認證
經(jīng)營模式:
貿(mào)易商
企業(yè)名稱:
深圳賽普思科技有限公司
所屬地區(qū):
廣東省 深圳市
發(fā)布時間:
2014/7/21 15:12:08

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羅生先生(聯(lián)系我時,請說明是在維庫儀器儀表網(wǎng)看到的,謝謝)

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二次離子質(zhì)譜概述

 

u  能量的離子打到固體表面會引起表面原子、分子或原子團的二次發(fā)射,即離子濺射。濺射的粒子一般以中性為主,其中有一部分帶有正、負電荷,這就是二次離子。利用質(zhì)量分析器接收分析二次離子就得到二次離子質(zhì)譜。根據(jù)濺射的二次離子信號,可對被轟擊樣品的表面和內(nèi)部元素及分布特征進行分析。

u  二次離子質(zhì)譜儀主要用于材料學(半導體、薄層、緣材料等)、地質(zhì)空間學、天體化學、環(huán)境微生物學和細胞學。

u  主要功能:

               質(zhì)譜分析-表面微區(qū)元素組成

               痕量元素深度剖析

               二次離子成像及顯微圖像分布(23D

               穩(wěn)定同位素豐度比

               放射性顆粒分析

               地質(zhì)定年

 

高分辨率二次離子質(zhì)譜NanoSIMS 50L

 

1、專門針對同位素以及痕量元素的高空間分辨率的二次離子探針

2、具有高的橫向分辨率,痕量元素和同位素高靈敏度

- 高空間分辨率(小到50 nm

- 高靈敏度 (元素分布圖像ppm

- 高質(zhì)量分辨率(M/dM

- 快速數(shù)據(jù)接收(DC mode, 非脈沖模式)

- 可分析緣樣品

- 同位素分析可達點幾

3、可同時探測5-7種離子

4、探測器可選電子器(成分圖像),也可選法拉第杯(高同位素豐度比測量)

 

高分辨率二次離子質(zhì)譜應用領域

 

微生物學

The NanoSIMS 50L 開啟了一條新路徑,能夠?qū)⑾到y(tǒng)進化識別(phylogenetic identity,with H orEl-H)與單細胞的功能結合起來(usingstable isoe labeling) 以便研究環(huán)境對微生物群體的影響。

N. Musat, MPI Bremen, Germany.

 細胞生物學

因具有的50nm分辨率以及能夠測同位素比的能力,NanoSIMS50L 能夠針對單個細胞,對那些做了同位素標識的分子在這個個細胞內(nèi)部聚集和流動情況進行測量。

C. Lechene and D.P. Corey, Harvard MedicalSchool & Brigham Women's Hospital, USA.

 地質(zhì)和空間科學

NanoSIMS 50L可以深入亞微米(sub-micron)區(qū)域,針對對來自于行星間的塵埃粒子、隕石以及礦物截面內(nèi)部的小粒子或夾雜,測定元素和同位素。在使用多個法拉第杯以及幾個微米大小束斑的配置下,所給出的同位素比的以及外部重復性均小到點幾。J. Moreau et al., SCIENCE.

 材料研究:

歸功于高質(zhì)量分辨率下的高靈敏度(沒有質(zhì)量干擾),NanoSIMS 50L 能夠以50nm的橫向分辨率對痕量元素(摻雜)做元素分布圖和定量測量,包括電緣材料。

H. Haneda, NIMS, Japan. 

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