X-Strata920-P全自動膜厚測試儀性能:
測厚范圍:取決于具體的應用。
測量:
1.膜厚≤20μin時,測量誤差值為:層(上層)±1μin,第二層±2μin,第二層±3μin
2.膜厚>20μin時,測量誤差值為:層(上層)±5%,第二層±10%,第二層±15%
X-Strata920-P全自動膜厚測試儀鐳射聚焦系統:
1.自動定位X射線光管/探測器與樣品到測試距離,
2.單擊鼠標,Z軸自動掃描,
3.Z軸自動聚焦到焦距12.7mm,同時將樣品圖像定焦(顯示在屏幕上),
4.一鍵定焦,避免了人為操作誤差
牛津鍍層測厚儀X-Strata920:是X射線熒光鍍層測厚儀,利用X射線照射產品,產品的不同元素產生不同的X射線熒光,儀器分析X射線熒光的波長和能量,從而計算出不同元素的膜厚。是牛津儀器新開發的新一代鍍層測厚儀;是CMI900的升級換代產品,系統軟件、硬件均進行了更新。具有非破壞、非接觸、測量的能力;一鍵定焦,避免人為操作誤差;快速簡潔,需10秒即可得出測量結果;測量輸出多樣化。標準臺面鍍層膜厚儀適用于大多數行業,價格優惠,是質量控制、節約成本的檢測工具。
X-Strata920-P全自動膜厚測試儀在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出卓越的分析能力,可進行多鍍層厚度的測量。X-Strata920 為這些行業提供了:
1.以更的過程控制來生產力
2有助電鍍過程中的生產成本小化、產量化
3快速地分析珠寶及其他合金
4快速分析多達5層鍍層
5經行業的技術和性,每年都帶來收益
6操作簡單,要簡單的培訓









