X-Strata920-P全自動膜厚測試儀性能：
測厚范圍：取決于具體的應用。
測量：
1.膜厚≤20μin時，測量誤差值為：層（上層）±1μin，第二層±2μin，第二層±3μin
2.膜厚＞20μin時，測量誤差值為：層（上層）±5%，第二層±10%，第二層±15%
X-Strata920-P全自動膜厚測試儀鐳射聚焦系統：
1.自動定位X射線光管/探測器與樣品到測試距離，
2.單擊鼠標，Z軸自動掃描，
3.Z軸自動聚焦到焦距12.7mm，同時將樣品圖像定焦（顯示在屏幕上），
4.一鍵定焦，避免了人為操作誤差
牛津鍍層測厚儀X-Strata920：是X射線熒光鍍層測厚儀，利用X射線照射產品，產品的不同元素產生不同的X射線熒光，儀器分析X射線熒光的波長和能量，從而計算出不同元素的膜厚。是牛津儀器新開發的新一代鍍層測厚儀；是CMI900的升級換代產品，系統軟件、硬件均進行了更新。具有非破壞、非接觸、測量的能力；一鍵定焦，避免人為操作誤差；快速簡潔，需10秒即可得出測量結果；測量輸出多樣化。標準臺面鍍層膜厚儀適用于大多數行業，價格優惠，是質量控制、節約成本的檢測工具。
X-Strata920-P全自動膜厚測試儀在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。X-Strata920 為這些行業提供了：
1.以更的過程控制來生產力
2有助電鍍過程中的生產成本小化、產量化
3快速地分析珠寶及其他合金
4快速分析多達5層鍍層
5經行業的技術和性，每年都帶來收益
6操作簡單，要簡單的培訓
