ST-Thermal_X 功率器件熱特性測(cè)試
可測(cè)試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的熱特性
試驗(yàn)?zāi)芰?/p>
? 功率循環(huán) · 秒級(jí) / Pcsec
? 功率循環(huán) · 分鐘級(jí) / PCmin
? 被動(dòng)循環(huán) / TC
? 熱阻()/ Rth/Zth
? K曲線 / Kcurve






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李先生先生(聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)說明是在維庫儀器儀表網(wǎng)看到的,謝謝)
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