產(chǎn)品品牌：

NANOVEA

產(chǎn)品型號：

I50

美國NANOVEA納米壓痕測試儀 美國NANOVEA公司是一家公認的壓痕測試儀的革新者，生產(chǎn)的壓痕測試儀是目前國際上用在科學研究和工業(yè)領(lǐng)域先進的設(shè)備，主要應(yīng)用在：半導體技術(shù)(鈍化層、鍍金屬、Bond Pads)；存儲材料(磁盤的保護層、磁盤基底上的磁性涂層、CD的保護層)；光學組件(接觸鏡頭、光纖、光學刮擦保護層)；金屬蒸鍍層；防磨損涂層(TiN, TiC, DLC, 切割工具)；藥理學(藥片、植入材料、生物組織)；工程學(油漆涂料、橡膠、觸摸屏、MEMS)等行業(yè)； 特點：主要用于納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試，測試結(jié)果通過壓入載荷大小與壓入深度的曲線計算得出，無需通過顯微鏡觀察壓痕面積。 ·完全符合ISO14577、ASTME2546 ·光學顯微鏡自動觀察 ·獨特的熱漂移控制技術(shù) ·可硬度、剛度、彈性模量、斷裂剛度、失效點、應(yīng)力－應(yīng)變、蠕變性能等力學數(shù)據(jù)。 ·適時測量載荷大小 ·采用獨立的載荷加載系統(tǒng)與高分辨率的電容深度傳感器 ·快速的壓電陶瓷驅(qū)動的載荷反饋系統(tǒng) ·雙標準校正：熔融石英與藍寶石