產(chǎn)品品牌：

NANOVEA

產(chǎn)品型號：

Mechanicai testers

美國NANOVEA公司是一家公認的原位納米力學測試系統(tǒng)的領航者，生產(chǎn)的微納米力學測試系統(tǒng)是目前國際上用在科學研究和工業(yè)領域先進的設備。 原位納米力學測試系統(tǒng)涵蓋了納米壓痕儀、納米劃痕儀、納米摩擦磨損測試儀和SPM功能可以對樣品表面微區(qū)進行納米壓痕（施加正向垂直載荷力）、 劃痕（施加側向載荷力）、原位成像壓痕或劃痕后的表面形貌。納米測試系統(tǒng)主要應用于硬度、彈性模量、摩擦系數(shù)、磨損率、結合強度、臨界載荷、斷裂剛度、失效、分層、疲勞、蠕變、粘變力（結合力）、三維表面輪廓等測試. 該儀器可廣泛的應用于材料、薄膜、航空航天、汽車工業(yè)、半導體、生物醫(yī)學、MEMS、高分子、薄膜和涂層，以及太陽能/燃料電池化工、石油、巖石、微電子、微型傳感器、半導體材料、自動控制、航空航天、汽車工業(yè)及機械工具的材料研究和開發(fā)，還可以應用于工業(yè)產(chǎn)品的失效與可靠性的評價、質量控制及檢驗；也可以按所有的ASTM 和多種ISO 的標準進行測量。同時也可以向各類不同領域中的用戶提供檢測服務。 技術參數(shù)                                                                      

參數(shù)	NANO系列
載荷范圍	400mN(800mN,1600mN可選)
載荷分辨率（理論）	0.03μN
載荷分辨率(噪聲條件)	1.5μN
深度范圍	250μm
深度分辨率（理論）	0.003nm
深度分辨率（噪聲條件）	0.15nm
熱飄逸	<0.05nm/s
摩擦力	400mN
Sinus 模式分析(DMA)	20HZ
劃痕長度W/Visual inspection	25mm/90mm
劃痕長度W/OVisual inspection	25mm/ 150mm
劃痕速度	0-240mm/min